Introdução à Microscopia Eletrônica

A ampliação máxima dos microscópios eletrônicos agora excede 15 milhões de vezes,
Em 1931, M. Nohr e E. Ruska da Alemanha modificaram um osciloscópio de alta voltagem com uma fonte de elétrons de descarga de cátodo frio e três lentes de elétrons, e obtiveram imagens ampliadas em mais de dez vezes. Eles inventaram a microscopia eletrônica de transmissão, que confirmou a possibilidade da microscopia eletrônica amplificar a imagem. Em 1932, com a melhoria de Ruska, a capacidade de resolução dos microscópios eletrônicos atingiu 50 nanômetros, cerca de dez vezes a dos microscópios ópticos da época, quebrando o limite de resolução dos microscópios ópticos. Como resultado, os microscópios eletrônicos começaram a receber atenção.
Na década de 1940, Hill nos Estados Unidos compensou a assimetria rotacional das lentes eletrônicas com um astigmatizador, resultando em um novo avanço na resolução dos microscópios eletrônicos e gradualmente alcançando níveis modernos. Na China, um microscópio eletrônico de transmissão com uma resolução de 3 nanômetros foi desenvolvido com sucesso em 1958. Em 1979, um grande microscópio eletrônico com uma resolução de 0,3 nanômetros também foi desenvolvido.
Embora a resolução dos microscópios eletrônicos seja muito superior à dos microscópios ópticos, eles são difíceis de observar organismos vivos devido à necessidade de trabalhar em condições de vácuo, e a irradiação do feixe de elétrons também pode causar danos de radiação a amostras biológicas. Outras questões, como a melhoria do brilho do canhão de elétrons e da qualidade da lente eletrônica, também exigem mais pesquisas.
Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
Uso principal: Este instrumento tem resolução ultra-alta e pode observar e processar imagens de elétrons secundários e imagens de elétrons refletidas de várias morfologias de superfície de amostra sólida. Equipado com um espectrômetro de energia de raios X de alto desempenho, ele pode executar simultaneamente análises qualitativas, semiquantitativas e quantitativas de micropontos, linhas e elementos de superfície na superfície da amostra e tem a capacidade de analisar de forma abrangente a morfologia e os componentes químicos.
Categoria de instrumento: 03040702/Instrumentos/Instrumentos ópticos/Instrumentos de óptica eletrônica e óptica iônica
Informações do indicador: Resolução da imagem do elétron secundário: 1,5 nm Tensão acelerada: 0-30 kV Fator de amplificação: 100-500000 vezes Distância de trabalho ajustável contínua: 5-35 mm Inclinação ajustável contínua: -5 graus ~45 graus Espectrômetro de raios X: Resolução: 133 eV Faixa de análise: BU
Informações de anexo: Instrumento de revestimento de ouro e carbono, sistema de processamento de imagem ISIS, sonda de retrodispersão
A microscopia eletrônica de varredura por emissão de campo, devido à sua alta resolução, fornece um meio experimental confiável para o estudo de nanomateriais. Além disso, imagens satisfatórias foram obtidas para materiais semicondutores e isolantes. Observações morfológicas foram conduzidas em filmes finos supercondutores, materiais magnéticos, materiais de filmes finos crescidos por epitaxia de feixe molecular e materiais semicondutores. A análise da composição de microrregiões foi realizada em vários materiais, e resultados satisfatórios foram obtidos